6회차 7절 · 패키지 신뢰성
1,000시간은 몇 년인가
온도로 가속되는 고장은 흔히 아레니우스 식으로 시험 시간을 사용 시간으로 바꾼다. 같은 조건에서 Ea 만 바꾸면 결론이 크게 흔들린다.
AF = exp[ (Ea / k) · (1/Tuse − 1/Tstress) ] · k = 8.617×10−5 eV/K · T = °C + 273.15 · 등가 연수 = 시험 시간 × AF / 8,760
활성화 에너지에 따른 등가 사용 기간
본문과 대조 ()
시험 125 °C, 사용 55 °C, 1,000시간, 1년 = 8,760시간. 「본문」 열은 6회차 7절 아레니우스 문단·Ea 표와 10절 오해 9의 값이다.
| 항목 | 계산 | 본문 | |
|---|
이 계산이 빼놓은 것
- Ea 는 고장 기구마다 다르다. 하나의 시험으로 「이 칩은 9년 간다」고 말할 수 없는 이유다.
- JESD47I도 이 기간이 실제 사용 요구보다 짧을 수 있고 고장 기구와 사용 환경에 따라 달라진다고 단서를 달며, 장기 마모 기구는 웨이퍼 수준 신뢰성 자료로 보완하라고 한다.
- 이 식은 온도로 가속되는 고장에 쓴다. 고장 기구별 가속 모형은 JEDEC JEP122가 모아 둔다.
- JESD47I도 표 1 주석에서 같은 조건(0.7 eV, 125 °C → 55 °C)을 예로 들어 가속계수 78.6, 약 9년이라고 적는다. 상수와 반올림 차이로 끝자리가 다르다.